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著者 :浅田 邦博
出版年:2020年12月
分類:549.8
形態:図書
◎本のあらすじ
パワーデバイス・イネーブリング協会半導体技術者検定エレクトロニクス3級、公式テキスト。
◎目次
序章 半導体の試験について
第1章 半導体の基礎(半導体物性
トランジスタの構造と動作原理 ほか)
第2章 半導体の品質保証(品質保証
信頼性基礎技術 ほか)
第3章 半導体製品の分類(デバイスタイプ
ロジックデバイス ほか)
第4章 半導体の試験項目(半導体試験装置によるデバイス試験の概要
ファンクション試験 ほか)
◎著者紹介
浅田 邦博
東京大学名誉教授。1975年3月東京大学工学部電子工学卒業。80年3月同大学院博士課程修了(工博)。80年4月東京大学工学部任官。95年同工学系研究科教授。96年同大規模集積システム設計教育研究センター(VDEC)の設立に伴い同センターに異動、2000年4月同センター長、18年3月末に東京大学を退職。現在、武田計測先端知財団常任理事。この間、85〜86年英国エディンバラ大学訪問研究員。90〜92年電子情報通信学会英文誌エレクトロニクスエディタ。01〜02年IEEE SSCS Japan Chapter Chair。05〜08年IEEE Japan Council Chapter Operation Chair等々。専門は集積システム・デバイス工学(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
※予約できる点数は、1人10点までです。
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※町田市に在住もしくは、多摩美術大学・東京工科大学・桜美林大学に在学、在勤で利用者登録されている方は、ホームページからの予約サービスは受けることができません。

所蔵

所蔵件数は1件です。

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No.所在場所置き場所分類図書記号巻冊記号資料コード形態状態禁帯
1市立図書館開架549.8 34105783図書在架